膜厚計
151 件（247商品）中 61件目〜80件目を表示
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￥553,949 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03226
￥84,542 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03287
￥286,269 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03303
￥102,580 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03322
￥87,057 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導F
- 測定方式
- 磁気誘導F
- サイズ
- 145x60x28mm
- 基材の臨界厚さ
- 0.5mm
- 最小曲率半径
- 凸1.5mm,凹9mm
- 最小試験面積直径
- φ7mm
- 使用環境温度
- 0～40℃
- 重量
- 132g
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（ゼロ点校正）,±[（1％-3％）H+1]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～1250um
- 電源
- 単4型乾電池2本（別売）
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03323
￥36,075 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03324
￥87,057 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 渦電流
- 測定方式
- 渦電流
- サイズ
- 145x60x28mm
- 基材の臨界厚さ
- 0.5mm
- 最小曲率半径
- 凸1.5mm,凹9mm
- 最小試験面積直径
- φ7mm
- 使用環境温度
- 0～40℃
- 重量
- 132g
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（ゼロ点校正）,±[（1％-3％）H+1]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～1250um
- 電源
- 単4型乾電池2本（別売）
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03325
￥97,716 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導（F）,渦電流（N）
- 測定方式
- 磁気誘導（F）,渦電流（N）
- サイズ
- 110x50x23mm
- 基盤の臨界厚さ
- 0.5mm（F）,0.3mm（N）
- 最小曲率半径
- 凸度1.5mm（F）,凸度3mm（N）
- 最小試験面積直径
- 7mm（F）,5mm（N）
- 重量
- 100g
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（F,ゼロ点校正）,±（3％H+1.5）um（Nゼロ点校正）,±{（1-3）％H+1}um（F,2点校正）,±{（1-3）％H+1.5}um（N,2点校正）Hは試験物の厚さ
- 測定範囲
- 0-1250um（F）,0-1250um（N）,0-40um（N,銅上のクローム板）
- 電源
- 単4型乾電池2本（別売）
- 動作環境
- 使用環境温度0～40℃,使用環境湿度20～90％,強い磁場環境ではない
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03326
￥117,888 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導（F）,渦電流（N）
- 測定方式
- 磁気誘導（F）,渦電流（N）
- サイズ
- 110x50x23mm
- 基盤の臨界厚さ
- 0.5mm（F）,0.3mm（N）
- 最小曲率半径
- 凸度1.5mm（F）,凸度3mm（N）
- 最小試験面積直径
- 7mm（F）,5mm（N）
- 重量
- 100g
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（F,ゼロ点校正）,±（3％H+1.5）um（Nゼロ点校正）,±{（1-3）％H+1}um（F,2点校正）,±{（1-3）％H+1.5}um（N,2点校正）Hは試験物の厚さ
- 測定範囲
- 0-1250um（F）,0-1250um（N）,0-40um（N,銅上のクローム板）
- 電源
- 単4型乾電池2本（別売）
- 動作環境
- 使用環境温度0～40℃,使用環境湿度20～90％,強い磁場環境ではない
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03327
￥58,944 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導（F）
- 測定方式
- 磁気誘導（F）
- 基板の臨界厚さ
- 0.5mm
- 最小テストエリアの直径
- 7mm
- 最小解像度（測定誤差）
- 1um（±（3％H+1）um）,5um（±（3％H+1.5）um）,10um（±（3％H+10）um）Hは試験片の厚さ
- 最小曲率半径
- 凸度1.5
- 重量
- 100g
- 寸法
- 110×50×23mm
- 測定範囲
- 0～1250um
- 電源
- 単4電池2本（別売）
- 動作温度
- 0～40℃
販売単位：1個
お申込番号：XJ03328
￥135,446 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導（F400,F1,F1/90度,F10）,渦電流（N1,CNO2）
- 測定方式
- 磁気誘導（F400,F1,F1/90度,F10）,渦電流（N1,CNO2）
- 1点校正測定精度
- ±（3％H+1）（F400,F1,F1/90度）,±（3％H+10）（F10）,±（3％H+1.5）（N1）,±（3％H+1）（CNO2）
- 2点校正測定精度
- ±[（1～3）％H+0.7]（F400）,±[（1～3）％H+1]（F1,F1/90度）,±[（1-3）％H+10]（F10）,±[（1-3）％H+1.5]（N1）
- I/F
- RS232
- サイズ
- 230×86×47mm
- 基材の臨界厚さ
- 02.（F400）,0.5（F1,F1/90度）,2（F10）,0.3（N1）,無制限（CN02）
- 校正
- ゼロ調整および基準箔校正
- 最小面積の最小曲率
- 凸面1（F400）,1.5（F1）,平面（F1/90度,CN02）,10（F10）,3（N1）
- 最小領域の直径
- φ3（F400）,φ7（F1,F1/90度）,φ40（F10）,φ5（N1）,φ7（CN02）
- 使用環境温度
- 0～40℃
- 使用環境湿度
- 20～90％
- 準拠規格
- DIN,ISO,ASTM,BS
- 測定範囲（um）
- 0-400（F400）,0-1250（F1,F1/90度）,0-10000（F10）,0-1250（N1）,0-40（N1,銅上のクローム）,10-200（CNO2）
- 低域分解能（um）
- 0.1（F400,F1,F1/90度,N1）,10（F10）,1（CNO2）
- 電源
- NIMH充電池
- 商品仕様1
- ●6種類のプローブに対応しています。●コンパクトな設計ながら高精度/高分解能です。●各種コーティング材の膜厚を測定できます。●F400,F1,F1/90,F10,N1,CN02の6種類のプローブがあります。●連続モード、シングルモードを搭載しています。●直接測定、バッチ測定ができます。●平均値（MEAN）、最大値（MAX）、最小値（MIN）、測定データ数（NO）および標準偏差（S.DEV）の表示ができます。●2種類の校正方法があります。●バックライト付きです。●640の測定データの記録できます。●プリンタ内蔵です。
販売単位：1個
お申込番号：XJ03329
￥151,224 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03330
￥228,354 （税込）
お届け日：7月4日（木）まで
- 測定方式
- 磁気誘導F1.5
- 測定方式
- 磁気誘導F1.5
- サイズ
- 203×92×52mm
- 基盤の臨界厚さ
- 0.5
- 最小曲率半径
- 凸度1.5
- 最小試験面積直径
- φ7
- 使用環境温度
- 10～30℃
- 使用環境湿度
- 75％RH以下強い磁場環境なし
- 重量
- 400g
- 測定誤差
- ±（1％H+1）um
- 測定範囲
- 0～1500um
- 電源
- リチウム充電池
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03331
￥46,809 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 渦電流
- 測定方式
- 渦電流
- 基盤の臨界厚さ
- 無制限
- 最小曲率
- 平にする
- 最小領域
- φ7mm
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（1点校正）
- 測定範囲
- 0～4200um
- 分解能
- 1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03332
￥34,084 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導
- 測定方式
- 磁気誘導
- 基盤の臨界厚さ
- 0.5mm
- 最小曲率
- 1.5mm
- 最小領域
- φ7mm
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（1点校正）、±[（1～3）H％+1]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～1250um
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03333
￥169,747 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導
- 測定方式
- 磁気誘導
- 基盤の臨界厚さ
- 0.5mm
- 最小曲率
- 平にする
- 最小領域
- φ7mm
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（1点校正）、±[（1～3）H％+1]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～1250um
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03334
￥106,232 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導
- 測定方式
- 磁気誘導
- 基盤の臨界厚さ
- 2mm
- 最小曲率
- 10mm
- 最小領域
- φ40mm
- 測定誤差
- ±（3％H+10）um（1点校正）、±[（1～3）H％+10]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～10000um
- 分解能
- 10um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03335
￥106,232 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 磁気誘導
- 測定方式
- 磁気誘導
- 基盤の臨界厚さ
- 0.2mm
- 最小曲率
- 凸面1mm
- 最小領域
- φ3mm
- 測定誤差
- ±（3％H+1）um（1点校正）、±[（1～3）H％+0.7]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～400um
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03336
￥34,084 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
- 測定方式
- 渦電流
- 測定方式
- 渦電流
- 基盤の臨界厚さ
- 0.3mm
- 最小曲率
- 3mm
- 最小領域
- φ5mm
- 測定誤差
- ±（3％H+1.5）um（1点校正）、±[（1～3）H％+1.5]um（2点校正）
- 測定範囲
- 0～1250um/0～40um（銅上のクロム板）
- 分解能
- 0.1um
販売単位：1個
お申込番号：XJ03337
￥112,761 （税込）
お届け日：6月4日（火）まで
販売単位：1個
お申込番号：XJ03338
