ケツト科学研究所 膜厚計LEー373(メーカー実施校正書・トレサビリティ体系図付)※書類宛名なし LE-373 1台(直送品)
¥282,838(税込)
/¥257,126(税抜き)
販売単位:1台
お申込番号:EW92776 /メーカー:ケツト科学研究所 /型番:LE-373
| お申込番号 | EW92776 |
|---|---|
| メーカー | ケツト科学研究所 |
| 型番 | LE-373 |
| 販売単位 | 1台 |
| 価格 | ¥282,838(税込) /¥257,126(税抜き) |
商品詳細
- ブランド名
- ケツト科学研究所
- サイズ
- 75X145X31mm
- データメモリ数
- 約39000点
- プローブ
- 一点接触定圧式(LEP-J)
- 付加機能
- アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード
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| メーカー名 | ケツト科学研究所 | ブランド名 | ケツト科学研究所 |
|---|---|---|---|
| サイズ | 75X145X31mm | データメモリ数 | 約39000点 |
| プローブ | 一点接触定圧式(LEP-J) | 付加機能 | アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード |
| 使用温度範囲 | 0~40℃ | 分解能 | 0.1μm(100μm未満)、1μm(100μm以上) |
| 外部出力 | パソコン(USBまたはRS-232C) | 検量線メモリ | アプリケーションメモリ/100本の検量線を記憶 |
| 消費電力 | 80mW(バックライト非点灯時) | 測定対象 | 磁性金属上の非磁性被膜 |
| 測定方式 | 電磁誘導式 | 測定範囲 | 0~2500μmまたは99.0mils |
| 測定精度 | ±1μm(50μm未満)、±2%(50μm以上1000μm未満)、±3%(1000μm以上) | 表示方法 | デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) |
| 適合規格 | JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 | 重量 | 340g |
| 電池寿命 | 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) | 電源 | 電池1.5V(単3アルカリ)×4 |
| 商品仕様1 | ●磁性金属上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装などの非磁性被膜厚を測定する膜厚計です。●コンピュータにデータを転送することができ、検量線メモリ機能、測定データ・メモリ、上下限設定、簡単な統計処理など、16種の機能を装備しています。●メーカー実施校正書・トレサビリティ体系図が付属します。●セット内容:● 標準板(10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μm いずれも近似値・各1枚)、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4 、メーカー実施校正書、トレサビリティ体系図 | ||
| 備考 | 【返品について】お客様のご都合による返品はお受けできません。●※標準板(付属品以外の厚さ)、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト「データロガー LDL-03」はオプション品になります。●※書類に宛名は記載されません。 | ||
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